Keithley4200A-SCS参数分析仪
Keithley4200A-SCS参数分析仪
使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
直流电流-电压
(I-V) 范围
(I-V) 范围
10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V
电容-电压
(C-V) 范围
(C-V) 范围
1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏置
脉冲 I-V
范围
范围
±40 V (80 V p-p)，±800 mA
200 MSa/s，5 ns 采样率
参数查看，快速清晰。
大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
检定、 自定义、 大化。
简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。
特点
NBTI/PBTI 测试
随机电报噪声
非易失内存设备
稳压器应用测试
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击”测试定序
“手动”探测器模式测试探测器功能
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
降低成本并保护您的投资
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了解详情
| 产品技术资料 | 型号 | 说明 | 价格 |
|---|---|---|---|
| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率 对于两端和三端设备，MOSFET、CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
| 索取报价 |
| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于高 K 电解质，深亚微米 CMOS 检定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
| 索取报价 |
| 查看规格书 | 4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 对于功率设备、高 K 电解质，深亚微米 CMOS 设备检定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
| 索取报价 |
| 查看规格书 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用尖端 CMOS 技术套件进行复杂的 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 包括：
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